О СВЕРХГЛУБОКОМ ПРОНИКАНИИ ПОТОКА МИКРОЧАСТИЦ И ПОВРЕЖДЕНИИ ЭЛЕКТРОННЫХ ЭЛЕМЕНТОВ, РАСПОЛОЖЕННЫХ ЗА ПРЕГРАДОЙ

Приведены следы взаимодействия материала микрочастиц с металлической преградой и детектором, расположенным за преградой, а также экспериментальные данные, показывающие, что степень поражения микросхем, расположенных за преградой, зависит от материала частиц.
Автор:  А. И. Белоус, О. А. Дыбов, Г. С. Романов, С. М. Ушеренко, С. В. Шведов
Стр:  144